Delweddu a Dadansoddi TEM

TEM (delweddau maes llachar -, delweddau maes - tywyll echel -, canol tywyll-delweddau maes, delweddau -cydraniad uchel, -beam dark-delweddau maes gwan); STEM (delweddau HAADF, delweddau DF, delweddau BF, sbectra ynni EDS, delweddau iDPC); diffreithiant (difreithiant dethol, diffreithiant trawst cydgyfeiriol, diffreithiant nanobeam)

-sectorau cysylltiedig â sglodion (wafer fabs, cynhyrchwyr offer lled-ddargludyddion, cwmnïau dylunio sglodion, ac ati); Sectorau cysylltiedig â deunyddiau (prifysgolion, sefydliadau ymchwil, a mentrau ymchwil a datblygu materol).

Amser prosesu nodweddiadol: 5-7 diwrnod gwaith.

Gyda rhwystrau technolegol dwysach dramor, mae mentrau technoleg uchel domestig yn rhoi mwy o bwyslais ar alluoedd ymchwil a datblygu sglodion annibynnol, sydd wedi hybu ffyniant cynhyrchu domestig ar gyfer offer lled-ddargludyddion. Wrth i brosesau gweithgynhyrchu sglodion barhau i grebachu, mae datblygu sglodion ac offer lled-ddargludyddion yn dibynnu fwyfwy ar offer dadansoddol microsgopig fel TEM. Mae microsgopeg trawsyrru electron (TEM) yn chwarae rhan anadferadwy mewn ymchwil a datblygu materol. Mae'n darparu gwybodaeth adeileddol microsgopig hanfodol-gan gynnwys adeileddau grisial, diffygion, cyfansoddiadau elfennol, a chrynodiadau-sy'n helpu i ddadansoddi priodweddau ac ymddygiad defnyddiau. Y dechneg hefyd

yn hwyluso astudiaethau ar drawsnewidiadau cyfnod a phrosesau tryledu, gan gynnig mewnwelediadau gwerthfawr ar gyfer dylunio deunyddiau ac optimeiddio.

Mae Guangdian Metrology yn arbenigo mewn technoleg profi dadansoddi TEM, gan frolio tîm arbenigol blaenllaw yn y diwydiant ac offer dadansoddi TEM uwch (Talos F200X G2). Rydym yn darparu atebion profi dadansoddi TEM wedi'u teilwra i anghenion Ymchwil a Datblygu amrywiol gleientiaid. Mae gan ein cwmni alluoedd dadansoddi FIB-TEM ar gyfer prosesau uwch hyd at 7nm ac is.

Tagiau poblogaidd: delweddu a dadansoddi tem, darparwr gwasanaeth delweddu a dadansoddi tem Tsieina