Dadansoddiad Microstrwythurol o Ddeunyddiau

Mae gwasanaethau paratoi sampl lefel FIB a dadansoddi TEM lefel uwch yn darparu atebion paratoi sampl manwl gywir a dadansoddi strwythurol ar gyfer sglodion proses uwch trwy berfformio paratoadau

Mae GRGTEST Metrology yn darparu gwasanaethau dadansoddi trawst ïon (DB-FIB) deuol proffesiynol. Mae gwasanaethau profi poblogaidd yn cynnwys adrannau sampl TEM ar gyfer prosesau uwch (14 nm ac is),

Mae microsgopeg electron trosglwyddo (TEM) wedi dod yn offeryn dadansoddol anhepgor ym meysydd deunyddiau a lled-ddargludyddion. Mae'n offeryn optegol electron sy'n defnyddio pelydr electron ynni

Mae offer hollti wafferi a gwasanaethau delweddu SEM yn gymorth technolegol allweddol ar gyfer gwyddor deunyddiau, diwydiant electroneg ac ymchwil biofeddygol, ac maent yn arbennig o addas ar gyfer

Mae microsgop grym atomig Dimensiwn Bruker ICON6 yn cefnogi 12 dull, gan gynnwys cyswllt, tapio, a thapio grym brig, i ddiwallu anghenion profi gwahanol samplau a darparu dulliau profi amrywiol ar

Ystyr EDS yw Sbectromedr Gwasgaru Egni, sef dull dadansoddi sbectrosgopeg gwasgarol ynni pelydr-X. Mae ei egwyddor yn seiliedig ar y ffaith bod gwahanol elfennau yn allyrru pelydrau X nodweddiadol

Compared to traditional gallium-ion focused ion beam (Ga-FIB), PFIB utilizes a more powerful xenon (Xe) ion beam, achieving a maximum current of 2.5 μA at 30 keV energy, which increases its etching